X荧光光谱仪(XRF)作为无损、快速筛查RoHS等有害物质的核心设备，其测量准确性高度依赖科学的校准流程与合适的标准样品。
校准方法主要包括两点：能量校准与强度校准。能量校准确保探测器对不同元素特征X射线的能量分辨准确，通常使用含已知元素(如Cu、Fe、Mn)的单标样进行峰位校正；强度校准则建立元素含量与荧光强度之间的定量关系，需采用多组分标准样品构建校准曲线。对于RoHS检测，重点校准Pb、Hg、Cd、Cr、Br等元素。
标准样品的选择至关重要。理想标准物质应满足三点：基体匹配(如塑料、金属、陶瓷)、浓度覆盖限值附近(如500–2000 ppm)、经国家计量机构认证(如NIST、GBW)。例如，检测电子塑料外壳中的Br，应选用聚乙烯或ABS基体的含溴标准片，而非金属基体，以避免基体效应引入偏差。此外，轻元素(如Cl)因荧光产额低、易受空气吸收影响，需使用真空或氦气环境，并搭配专用轻元素标样。
实践中，建议采用“多点校准+定期核查”策略：初始建模使用5–7个浓度梯度标样，日常测试前用1–2个中等浓度核查样验证系统稳定性。若XRF用于出具合规报告，校准记录必须完整可追溯，并符合ISO/IEC 17025要求。
值得注意的是，X荧光光谱仪无法直接检测RoHS 2.0新增的四种邻苯二甲酸酯(因其不含特征元素)，此时应明确其定位为“初筛工具”，阳性样品需送液相色谱确证。合理校准与标样管理，是保障XRF数据可信度的基石。
