随着欧盟ROHS & WEEE指令的实施，引发了国内越来越多的相关企业纷纷积极的思考和寻找应对的方案。实际上，系统而完善的解决方案是需要整个行业、整个产业链，乃至整个国家的努力，而不是仅仅企业本身所能完成的，然而，其重要、直接的环节便是相关企业的生产过程控制，这是毫无疑问的事实。
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的*方法之一。在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术(XRF)提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其他分析方法(例如：发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等)比较而言，作为过程控制和检测使用，XRF特别适合用于各类相关生产企业，具有无需对样品进行特别的化学处理，以及方便、测量成本低、快速等明显优势。
X射线荧光分析技术可以分为两大类型：波长色散X射线荧光分析(WDXRF)和能量色散X射线荧光分析(EDXRF);而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si- PIN)型和SDD型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点。目前，X射线荧光分析不仅材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。也是X射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面可选仪器之一。同时，成为地质、冶金、建材、石油化工、半导体工业和医药卫生等领域的重要分析手段。
