EXF镀层测厚仪主要用于测量金属材料的涂层厚度。但是,由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引入了大量的测量误差,为了保证测量结果的准确性和可靠性,有必要进行不确定性分析。
EXF镀层测厚仪可同时测量磁性基材表面的非磁性涂层(如钢铁)(如油漆、陶瓷、铬等)和非磁性金属基材表面的非导电涂层(如油漆等)。仪器内置高精度集成探头,可通过电磁感应和涡流效应自动检测衬底性能和镀层厚度,并可通过晶格液晶快速显示结果。同时,测量数据可以成组保存,统计数据可以实时显示。用户可为每组设置上、下报警值、零位校准和多点校准。全新多点校准和零点校准,使您随时进行校准非常方便。标准化菜单,确保您可以轻松使用它们。
塑料工业电镀、电子材料、电镀(连接器、半导体、电路板、电容器等),钢铁材料涂层(铁、铸铁、不锈钢、合金、低表面处理钢板,等等)和有色金属材料涂层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)和各种其他涂层厚度测量和成分分析。EXF镀层测厚仪是一种非接触式无损检测方法,但该装置复杂、成本高、测量范围小。由于有放射源,用户必须遵守辐射防护规定。X射线法可测量极薄镀层、双镀层、合金镀层。射线法适用于涂层和基体原子序数大于3的涂层测量。电容法仅用于测量薄导电体上绝缘涂层的厚度。
EXF镀层测厚仪测量磁性金属基体条件(如钢、铁、合金和硬磁性钢、等)的磁性涂层厚度(如铝、铬、铜、搪瓷、等)、橡胶、油漆和非磁性金属基质(如铜、铝、锌、锡等)在导电涂层厚度(如:搪瓷、塑料、橡胶、油漆、等)。涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作方便等特点。EXF镀层测厚仪主要用于测量金属材料的涂层厚度。但是,由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引入了大量的测量误差,为了保证测量结果的准确性和可靠性,有必要进行不确定性分析。
EXF镀层测厚仪中原子的性质是由原子序数决定的,即轨道中质子数或电子数,具体x射线能量与原子序数的关系如图所示。K辐射的能量远高于L辐射的能量。涂层厚度的测量方法主要有楔切法、光学截断法、电解法、厚度差测量法、称重法、x射线荧光法、射线背散射法、电容法、磁性测量法和涡流测量法。前五种方法都是有损检测,测量手段繁琐、速度慢,更适合抽样检查。
EXF镀层测厚仪采用X荧光分析技术,可测量各种金属涂层的厚度,包括单层、双层、多层、合金涂层等。EXF涂层测厚仪是一种能谱分析方法,属于物理分析方法。当样品受到X射线照射时,样品中所含涂层或基体材料元素的原子受到激发后会发射出自己*的X射线。不同的元素有不同的X射线特性。当探测器探测到这些特征x射线时,它会把它们的光信号转换成模拟电信号。模拟电信号经模数转换器转换为数字信号,送入计算机进行处理。根据计算机应用软件获得的谱峰信息,通过数据处理确定镀层样品中各元素的类型和各元素的厚度。